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各種粉體特性測試儀測試方法的優(yōu)勢和不足

更新時間:2022-01-05      點(diǎn)擊次數(shù):941
   粉體特性測試儀的特點(diǎn)是一機(jī)多用、操作簡便、重復(fù)性好、測定條件容易改變、配套完整等。它的研制成功為粉體特性測試的普遍開展提供了一個新的測試手段。 該儀器主要用于大專院校、科研機(jī)構(gòu)的材料科學(xué)研究領(lǐng)域,在與粉體流動特性相關(guān)的生產(chǎn)領(lǐng)域也將有廣泛的應(yīng)用前景。
  各種粉體特性測試儀測試方法的優(yōu)勢和不足:
  1.激光法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可實現(xiàn)在線測量和干法測量。缺點(diǎn):分辨力較低。
  2.動態(tài)圖像法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可測量大顆粒,可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點(diǎn):不能分析細(xì)顆粒(如 <2μm),儀器成本較高。
  3.靜態(tài)圖像法:優(yōu)點(diǎn):成本較低、圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。 缺點(diǎn):操作復(fù)雜,分析速度慢,無法分析細(xì)顆粒(如 <2μm)。
  4.電鏡法:優(yōu)點(diǎn):能精分析納米顆粒和超細(xì)顆粒粒度和形貌,圖像清晰,表面紋理可見,分辨率高,是表征納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。缺點(diǎn):代表性差、儀器價格昂貴。
  5.光阻法:優(yōu)點(diǎn):測試速度快,可測液體或氣體中低濃度顆粒數(shù),分辨力高,樣品用量少。缺點(diǎn):進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜,不適用粒徑 <1μm 的樣品。
  6.電阻法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,可測顆粒數(shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn):不適合測量超細(xì)樣品和寬分布樣品,維護(hù)時更換小孔管比較麻煩。
  7.沉降法:優(yōu)點(diǎn):操作簡便,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價格較低,測試范圍較大。缺點(diǎn):測試時間較長,操作復(fù)雜。
  8.篩分法:優(yōu)點(diǎn):簡單、直觀、設(shè)備造價低,常用于大于38μm(400目)的樣品。缺點(diǎn):不能用于超細(xì)樣品;結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
  9.動態(tài)光散射法:優(yōu)點(diǎn):測試范圍寬(從納米到亞微米)、測試速度快,重復(fù)性好,操作簡便。缺點(diǎn):測試寬分布的納米材料誤差較大。
  10.超聲波法:粉體特性測試儀的優(yōu)點(diǎn):可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量,無需稀釋樣品。 缺點(diǎn):分辨率較低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差,結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。
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