納米粒度分析儀是基于傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡，搭配激光光源，可以檢視0.3 ml樣品中的納米級(jí)顆粒，并采用了近乎的黑色背景，可使布朗運(yùn)動(dòng)下的粒子觀測(cè)和分析更為方便，被廣泛適用于現(xiàn)代各大實(shí)驗(yàn)室之中，具有光參數(shù)穩(wěn)定、效率高、壽命長、不怕振動(dòng)等一系列優(yōu)點(diǎn)。 納米粒度分析儀采用Furanhofer衍射及Mie散射理論,測(cè)試過程不受溫度變化、介質(zhì)黏度,試樣密度及表面狀態(tài)等諸多因素的影響,只要將待測(cè)樣品均勻地展現(xiàn)于激光束中，即可獲得準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。而且區(qū)別于沉降法,由于不需要沉降過程，因此在一次測(cè)試中可以多次采樣(5-20次任意設(shè)定)，有效的濾除了由于電噪聲，樣品分布不均等因素造成的影響，使儀器的測(cè)試重復(fù)性變好。
除此之外，本公司生產(chǎn)的納米粒度分析儀還具備以下四大優(yōu)勢(shì)，分別是：
1、納米粒度分析儀探測(cè)器采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管(PMT)，對(duì)光子信號(hào)具有*的靈敏度和信噪比，從而保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度。
2、納米粒度分析儀采用自行研制的高速數(shù)字相關(guān)器CR140進(jìn)行數(shù)據(jù)采集與實(shí)時(shí)相關(guān)運(yùn)算，其數(shù)據(jù)處理速度高達(dá)125M，從而實(shí)時(shí)有效地反映顆粒的動(dòng)態(tài)光散射信息。
3、納米粒度分析儀采用短波激光光源和光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關(guān)譜探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強(qiáng)的抗干擾能力，從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性。
4、采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。小顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度快，大顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度慢，激光照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。
5、使用PCS技術(shù)測(cè)定納米級(jí)顆粒大小，必須能夠分辨納秒級(jí)信號(hào)起伏。本儀器的核心部件采用微納公司研制的CR140數(shù)字相關(guān)器，具有識(shí)別8ns的*分辨能力和*的信號(hào)處理速度，因此可以得到準(zhǔn)確的測(cè)定結(jié)果。
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