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BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

簡(jiǎn)要描述:BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-07-26
  • 訪  問(wèn)  量: 3612

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動(dòng)態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀


基本性能指標(biāo)

粒徑檢測(cè)

  原理  動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)
  粒徑范圍  0.3 nm – 10 μm 
  樣品量  40 μL – 1 mL 
  檢測(cè)角度  173 ° + 12°
  分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測(cè)試

  原理  相位分析光散射技術(shù)
  檢測(cè)角度  1
  Zeta范圍  無(wú)實(shí)際限制
  電泳遷移率范圍  >±20 μm.cm/V.s
  電導(dǎo)率范圍  0 - 260 mS/cm
  Zeta測(cè)試粒徑范圍  2 nm – 120 μm  

分子量測(cè)試

  分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da    

微流變測(cè)試

  測(cè)試能力  均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> 

粘度和折光率測(cè)試

  粘度范圍  0.01 cp – 100 cp
  折光率范圍  1.3-1.6

趨勢(shì)測(cè)試

  時(shí)間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

  溫控范圍  -15°C - 110°C,精度±0.1°C
  冷凝控制  干燥空氣或者氮?dú)?/span>
  標(biāo)準(zhǔn)激光光源  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm
  相關(guān)器  最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動(dòng)態(tài)線性范圍
  檢測(cè)器  APD (高性能雪崩光電二極管)
  光強(qiáng)控制  0.0001%  - 100%,手動(dòng)或者自動(dòng)  

軟件

 中文和英文 符合21CFR Part 11


檢測(cè)參數(shù)


●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

●分子量

●分布系數(shù) PD.I

●擴(kuò)散系數(shù) D

●流體力學(xué)直徑 DH

●顆粒間相互作用力因子 kD

●溶液粘度



檢測(cè)技術(shù)

●動(dòng)態(tài)光散射

●電泳光散射

●靜態(tài)光散射


BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀



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