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納米粒度及Zeta電位分析儀

簡要描述:BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學(xué)檢測系統(tǒng)。

  • 產(chǎn)品型號:BeNano 180 Zeta Pro
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-07-26
  • 訪  問  量: 17261

詳細介紹

BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano  90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學(xué)檢測系統(tǒng)。 BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀系統(tǒng)中集成了背向 +90°動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分 布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

納米粒度及Zeta電位分析儀

                         

基本性能指標


粒徑檢測

  原理  動態(tài)光散射技術(shù)
  粒徑范圍  0.3 nm – 15 μm
  樣品量  3 μL – 1 mL
  檢測角度  173 °+90 ° + 12°
  分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zate電位測試

  原理  相位分析光散射技術(shù)
  檢測角度  12°
  Zeta范圍  無實際限制
  電泳遷移率范圍  > ±20 μm.cm/V.s
  電導(dǎo)率范圍  0 - 260 mS/cm
  Zeta測試粒徑范圍  2 nm – 120 μm  

分子量測試

  分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da

微流變測試

  測試能力  均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

粘度和折光率測試

  粘度范圍  0.01 cp – 100 cp
  折光率范圍  1.3-1.6

趨勢測試

  時間與溫度

系統(tǒng)參數(shù)

  溫控范圍  -15°C - 110°C,精度±0.1°C
  冷凝控制  干燥空氣或者氮氣
  相關(guān)器  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm
  電泳遷移率范圍  最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍
  檢測器  APD (高性能雪崩光電二極管)
  光強控制  0.0001%  - 100%,手動或者自動    

軟件

  中文和英文  符合21CFR Part 11



檢測參數(shù)


●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布

●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

●分子量

●分布系數(shù) PD.I

●擴散系數(shù) D

●流體力學(xué)直徑 DH

●顆粒間相互作用力因子 kD

●溶液粘度



檢測技術(shù)

●動態(tài)光散射

●靜態(tài)光散射

●電泳光散射


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